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2015-5絕緣材料高溫表面和體積電阻率測(cè)試系統(tǒng)符合的標(biāo)準(zhǔn)要求
適用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T22042-2008《服裝防靜電性能表面電阻率試驗(yàn)方法》；EN1149-1-1995《防護(hù)服靜電性能部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》；GB/T1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》（與標(biāo)準(zhǔn)IEC93-1980等效）；FZ/T64013-2008《靜電植絨毛絨》；SJ/10694-2006《電子產(chǎn)品制造與應(yīng)用系統(tǒng)防靜電檢測(cè)通用規(guī)范》6.1及ASTMD257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》要求制作。GB/T2439-2001《硫化橡膠或...7
2015-312
2015-1粉末電阻率測(cè)試儀組成結(jié)構(gòu)功能說(shuō)明
粉末電阻率測(cè)試儀是為了適應(yīng)當(dāng)前迅速發(fā)展中的高分子半導(dǎo)電納米材料電阻率測(cè)試需要,參照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的。粉末電阻率測(cè)試儀適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗(yàn)和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質(zhì)量的一種重要工具。儀器直接采用數(shù)字顯示。儀器的可靠性和穩(wěn)定性大大增強(qiáng)，更方便于用戶，而且價(jià)格低廉、實(shí)惠。配置不同的測(cè)試架可以對(duì)半導(dǎo)體粉末、高分子納米粉末進(jìn)行電阻、電阻率多用途的測(cè)量。適用于有機(jī)、無(wú)機(jī)粉末材料(包括納米級(jí))的電阻率測(cè)量，特別適合于太陽(yáng)能多晶硅、硅粉質(zhì)量的測(cè)...24
2014-1224
2014-1218
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2014-12粉末振實(shí)密度儀的性質(zhì)和功能簡(jiǎn)介
可壓縮系數(shù)和Hausner比是反映粉末振實(shí)密度儀被壓縮時(shí)的性質(zhì)，同時(shí)也反映了顆粒間的相互作用。流動(dòng)性差的振實(shí)密度儀，顆粒間的相互作用比較明顯，堆積密度和振實(shí)密度測(cè)得值差異比較大。這些差別反映在振實(shí)密度儀的可壓縮系數(shù)和Hausner比。流動(dòng)性好的振實(shí)密度儀，顆粒間的相互作用不明顯，堆積密度和拍填密度值比較接近。這樣的比較經(jīng)常用來(lái)作為振實(shí)密度儀流動(dòng)的能力指標(biāo)，例如下文中所述的可壓縮性系數(shù)或豪斯納比。因?yàn)榱Ｗ娱g相互作用影響振實(shí)密度儀膨脹系數(shù)同時(shí)也會(huì)干擾振實(shí)密度儀的流動(dòng)，在給定粉末振...27
2014-11四探針電阻率測(cè)試儀的配置特點(diǎn)和技術(shù)參數(shù)
四探針電阻率/方阻測(cè)試儀(以下簡(jiǎn)稱電阻率測(cè)試儀)是用來(lái)測(cè)量半導(dǎo)體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測(cè)量?jī)x器。它主要由電氣測(cè)量部份測(cè)試架及四探針頭組成。本儀器的特點(diǎn)是主機(jī)配置雙數(shù)字表，在測(cè)量電阻率的同時(shí)，另一塊數(shù)字表(以萬(wàn)分之幾的精度)適時(shí)監(jiān)測(cè)全程的電流變化，免除了測(cè)量電流/測(cè)量電阻率的轉(zhuǎn)換，更及時(shí)掌控測(cè)量電流。主機(jī)還提供精度為0.05%的恒流源，使測(cè)量電流高度穩(wěn)定。本機(jī)配有恒流源開(kāi)關(guān)，在測(cè)量某些箔層材料時(shí)，可免除探...公司地址
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