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半導體高溫電阻測試儀,導體高溫電阻儀,高溫四探針測試系統
更新時間:2015-03-07 點擊次數:1640

FT-351高溫四探針電阻率測試系統四、技術參數資料

1.方塊電阻范圍:10-5~2×105Ω/□

2.電阻率范圍:10-6×106cm

3.測試電流范圍:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

4.電流精度:±0.1%讀數

5.電阻精度:≤0.3%

6.顯示讀數:液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)

10. zui高溫度: 1200℃可調節;沖溫值:≤1-3℃;控溫精度:±1°C

11、升溫速度:9999分鐘以內自由設定,一般10分鐘內即可升到900℃;功率:3kw.

12、爐膛材料:采用復合陶瓷纖維材料,具有真空成型,高溫不掉粉的特征。

13.測試PC軟件一套,USB通訊接口,軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數據!

14.選購:電腦和打印機

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